上海艾斯达电子

18年

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产品分类

优势库存(1016)集成电路(IC)(6)电源IC(1)半导体存储器(38)二极管(14)场效应管MOSFET(8)可控硅IGBT(13)单片机(4)电容器(28)电阻器(2)电源/稳压器(53)连接器/接插件(64)开关(118)传感器(1120)保险丝(8)普通电池/蓄电池/动力电池(48)变压器(2)变送器(119)继电器(36)变频器(78)逆变器(3)放大器(16)电线电缆(22)光电子/光纤/激光(24)微特电机(11)显示屏/显示器件/配件(14)PLC/可编程控制器(74)编码器(50)安防监控器材(18)IT/电子产品成套件(86)电子测量仪器(569)电子产品试验设备(2)电子产品制造设备(2)仪器/仪表(1799)电子材料(4)防静电产品(2)五金/工具(200)其他未分类(350)
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供应 HIOKI日置阻抗分析仪 IM3570 可以满足不同测量条件的高速检测仪
供应 HIOKI日置阻抗分析仪 IM3570 可以满足不同测量条件的高速检测仪
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供应 HIOKI日置阻抗分析仪 IM3570 可以满足不同测量条件的高速检测仪

型号/规格:

阻抗分析仪 IM3570

品牌/商标:

HIOKI日置

价格:

127840.0

产品信息

IM3570阻抗分析仪

  • 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
  • LCR模式下快1.5ms1kHz),0.5ms100kHz)的高速测量
  • 基本精度±0.08%的高精度测量
  • 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCRL-Q的测量,分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

 

基本参数

 

测量模式

LCRLCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

ZYθRsESR)、RpRdc(直流电阻)、XGBCsCpLsLpDtanδ)、Q

测量量程

100mΩ~100MΩ12档量程(所有参数由Z确定)

显示范围

ZYRsRpRdcXGBLsLpCsCp±0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅ZY显示
θ
±0.000°~999.999°),D±0.000000~9.999999
Q
±0.00~99999.99),%±0.0000%~999.9999%

基本精度

Z±0.08%rdg. θ±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)
50mV~1Vrms
1mVrms步进(1MHz以下)
10mV~1Vrms
1mVrms步进(1.0001MHz以上)
CC
模式(普通模式)
10μA~50mA rms
10μA rms步进(1MHz以下)
10μA~10mA rms
10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms100kHzFAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/ORS-232CGP-IBUSB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V50/60Hz150VA

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用94429593-019446

接口

GP-IBRS-232CEXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V50/60Hz150VA

体积和重量

330W×119H×307Dmm5.8kg

附件

电源线×1

 

已包含附件:电源线×1

标配没有测试治具,请另行购买选件。

 

 

可选附件:

14端子探头L2000DC~5MHz1m

2、测试冶具9262直接连接型, DC5 MHz

3、测试冶具9263DC~5MHz,直接连接型,测试样品尺寸:1mm~10mm

4SMD测试治具9677用于侧面有电极的SMDDC~120MHz,测试样品,尺寸:3.5mm±0.5mm

5D测试治具9699用于底部有电极的SMDDC~120MHz,测试样品,尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下

6GP-IB连接线9151-022m

7、打印机9670供电电源为AC适配器,9671或电池组9672,无CE标志。