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上海艾斯达电子
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相关产品
产品信息
美国i-CHEQ手持式合金分析仪
i-CHEQ手持式XRF合金分析仪- -来自美国的XRF技术。快速的分析结果，重大决策的快速制定，均在扣动分析仪的瞬间轻松实现。
用于现场，无损，快速，准确分析检测合金元素和合号的识别。主要应用在化工、金属冶炼、废旧金属的回收、压力容器、电力电站、石油化工、精细化工、制药、航空航天、石化建设等行业中。用于库存材料管理、安装材料复检、质量保证与质量控制（QA/QC）、废旧金属鉴别等现场的合金元素分析和合号鉴别。
可分析元素
可分析从从镁 (Mg)到钚 (Pu)之间的所有83种元素，
本机标配25种标准元素: Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25种元素；
可分析的合金搞达2000多种，可识别的合号556种，同时用户可自建合号数据库。
技术参数
【重量】基本上重量:1.4kg，上电池后:1.5kg
【尺寸(高x宽x长)】300mm x 90mm x 220mm
【激发源】射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb）
【电压电流与功率】大功率微型X射线管40KV、100MA、4W
【滤波器】六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节
【探测器】高性能高分辨率Si-Pin X射线探测器
【探测器制冷温度】 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35
【标准片】外置316标准片；
【解析度】<180
【电源】8小时/2块锂电源及交流电源
【处理器】Intel 400MHz StrongArm处理器
【操作系统】移动Windows CE系统
【兼容性】蓝牙,GPS，打印
【软件标准模式】Alloy
【数据处理】8G大容量数据存储卡：≥40, 000组数据及光谱图，可随时通过仪器触屏电脑或导出到个人PC查看。
【数据分析】多种分析模式，包括基本参数，Compton归一化，经验校准模式，光谱配色
【数据显示】集中于ppm与百分比（％）显示，光谱或峰强度（计数率）或用户定的单位
【重量】基本上重量:1.4kg，上电池后:1.5kg
【尺寸(高x宽x长)】300mm x 90mm x 220mm
【激发源】射线管靶材5种可选择 金（Au）、银（Ag）、钨（W）、钽（Ta），钯（Pb）
【电压电流与功率】大功率微型X射线管40KV、100MA、4W
【滤波器】六种可选择的滤波器根据不同的实物自动调节
【探测器】高性能高分辨率Si-Pin X射线探测器
【探测器制冷温度】 Peltier效应半导体制冷,制冷温度-35
【标准片】外置316标准片；
【解析度】<180
【电源】8小时/2块锂电源及交流电源
【处理器】Intel 400MHz StrongArm处理器
【操作系统】移动Windows CE系统
【兼容性】蓝牙,GPS，打印
【软件标准模式】Alloy
【数据处理】8G大容量数据存储卡：≥40, 000组数据及光谱图，可随时通过仪器触屏电脑或导出到个人PC查看。
【数据分析】多种分析模式，包括基本参数，Compton归一化，经验校准模式，光谱配色
【数据显示】集中于ppm与百分比（％）显示，光谱或峰强度（计数率）或用户定的单位
【数据传输】RS232串行电缆，蓝牙，文件TXT，EXCEL格格输出。
【显示屏】彩色，高分辨率3.5寸TFT工业级触摸屏，大图标图形界面，任何光线条件下清晰可见；
【外形设计】一体化机身设计，坚固，防水防尘防冻，有效防振，适合野外、潮湿或低温等环境使用。
【安全操作】一触式“扳机”，软件自动定时锁扳机或自动停止测试防护功能；判断测试窗前方没有样品后2秒内自动关闭X射线
【分析元素】 Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Hg, As, Pb, Se, Rb, Sr, Zr,Co、V、 Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba ,K, Ca, Ti和Th等不少于25种元素；
【测试环境条件】温度-20～+50℃，湿度＜80%RH。
【开机时间】仪器开机到进入测试界面时间不超过15秒钟
技术参数
重量轻、体积小、尖嘴部分设计符合人体工程学，便于测试部分难测部位或焊接点
性能卓越，现场无损检测，对不规则或很小样品测试进行自动补偿
一键式按钮设计，操作简单，
1/3机身铝合金结构，具有优良的防辐射及散热效果
10秒的快速开机优于同类仪器；测试速度快，2-3秒内身份等级鉴定
坚固的构造、密封超大屏幕彩色TFT显示（>3.5"），无LCD高原反应，防湿防尘；
稳定先进的操作系统、先进的I-smart软件，反应迅速
丰富的合号智能数据库(客户可自建合金库)
海量存储、待机时间长
灵活通用的通讯功能（内置WiFi无线通讯）
内置GPS定位系统，及时锁定取样坐标。
