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OmniScan SX有两种型号：SX PA和SX UT。SX PA是一款16:64PR相控阵单元，与仅具有UT通道的SX UT一样，也配备了一个常规UT通道，可以进行脉冲回波、一发一收或TOFD检测。与OmniScan MX2相比，OmniScan SX重量轻33 %，体积小50 %，具有OmniScan产品前所未有的更为轻巧便携的性能。

OmniScan SX触摸屏配有全屏模式选项，使清晰度达到化，用户仅需在触摸屏上进行简单操作，便可访问许多菜单功能。直观的界面使用户可以流畅地进行菜单选择，缩放，闸门调节，光标移动以及文本和数字的输入。以上这些特性，加上其它附加的集成功能，包括浅显易懂的设置和校准向导，迅捷的S扫描和A扫描显示更新率，和快速的脉冲重复频率（PRF），使OmniScan SX成为一款高效的检测工具。

OmniScan SX能与Olympus数量庞大的扫查器、探头和附件产品，及其专门的配备软件NDT SetupBuilder和OmniPC完全兼容。硬件和软件产品的完整结合，使检测流程从设计、设置到采集、分析变得精简有效。

设置

可以在NDT SetupBuilder中为检测进行设置，然后再通过SD卡或USB钥匙，将设置直接导入到OmniScanSX仪器。进行采集之前，只需在仪器中进行几项基本操作，如：设置闸门和范围。由于OmniScan SX具有以下几个特性，用户也可以在仪器中非常方便地创建设置：

• 自动探头识别
• 单步骤、预先配置应用的向导
• 焊缝覆盖与声线跟踪模拟

校准

为完成一项符合规范的检测，仪器中的校准向导可以保证每组中的每个聚焦法则都直接等同于一个单通道常规探伤仪。用户在完成所要求的校准过程中，会得到向导的分步指导。所校准的项目包括声速、楔块延迟、灵敏度、TCG、DAC、AWS及编码器。现在，仪器可以自动完成TOFD PCS校准与直通波矫直的操作。

采集

在进行手动、单线或光栅编码扫查时，OmniScan SX可以方便地对检测参数进行配置。采集数据可以用户选择的视图形式实时显示在屏幕上，用户还可以将数据存储于具有热插拔功能的SD卡或USB 2.0设备中。

• 智能布局
• 全屏模式，可更好地显示缺陷
• 可以使用不同的闸门组合对同步和测量进行处理

数据分析和制作

• 数据光标、参考光标与测量光标用于缺陷的定量。
• 扩展的数据库、预先定义的三角学参数列表、缺陷相对于轴的统计数据、体积位置信息、基于规范的合格标准、腐蚀成像的统计数据等等。
• 在进行离线闸门重新定位的操作中，视图可被链接在一起，进行交互式分析和自动更新。
• 优化的预置布局可对缺陷的长度、深度和高度进行快速方便的定量。

无论您想在计算机中完成数据分析，还是希望您的OmniScan仪器采集完数据后继续在现场进行数据分析，OmniPC或TomoView都是理想的与OmniScan配套使用的软件工具。

技术规格