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上海艾斯达电子
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产品分类
优势库存(1016)集成电路(IC)(6)电源IC(1)半导体存储器(38)二极管(14)场效应管MOSFET(8)可控硅IGBT(13)单片机(4)电容器(28)电阻器(2)电源/稳压器(53)连接器/接插件(64)保险丝(8)普通电池/蓄电池/动力电池(48)变压器(2)变送器(119)继电器(36)放大器(16)电线电缆(22)光电子/光纤/激光(24)微特电机(11)显示屏/显示器件/配件(14)电子产品试验设备(2)电子产品制造设备(2)仪器/仪表(1799)防静电产品(2)五金/工具(200)其他未分类(350)
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产品信息
ICT33C+产品特点：
1．工作原理：
ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能
测试仪器。它以MCS51单片机为，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件
的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能
是重要，根本，能说明问题的参数。
2．系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：全塑结构机箱。
技术规格：
（1） 电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2） 整机功耗：15VA。
（3） 测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4） 编程电压：12.5V，21V。
（5） 大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6） 型号输入位数：3——6位。
（7） 适用温度：0——40℃。
（8） 测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。
（9） 输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10） 输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11） 输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12） 输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
ICT33C+具有以下主要用途：
（1） 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2） 破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3） 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4） 开发各类智能电子产品，调试程序。
（5） 检验新购器件的质量。
备注信息：
CMOS40系列
4000 4001 4002 4006 4007 4008 4009 4010 4011 4012 4013 4014 4015 4016 4017 4018 4019 4020 4021 4022 40234024 4025 4026 4027 4028 4029 4030等等一系列
CMOSMC140系列
MC140系列请输入与40系列相对应的型号，如MC14013为4013，MC140195为40195，其余以此
类推。
CMOS45系列
4501 4502 4503 4504 4506 4508 4510 4511 4512 4513 4514 4515 4516 4517 4518 4519 4520 4521 4522 4526 4527
CMOSMC145系列
MC145系列请输入与45系列相对应的型号，如MC14513为4513，MC145195为45195，其余
以此类推。
光耦合器系列（括号内的数值是实际输入的号）
507 5072 5073 617 627 637 521-1 521-2 521-3 521-4 621 622 624 036
865 230 855 860 865 230 231 255 119 571 011 6N135(6135) 6N136(6136)
TTL74/54系列
74/5400 74/5401 74/5402 75/5403 74/5404 74/5405 74/5406 74/5407 74/5408 74/5409 75/5410 74/5411 等 等
数码管系列
0.5吋共阳[001]、共阴[002]；0.3吋共阳[003]、共阴[004]；0.7吋共阳[005]、共阴[006]。
常用RAM系列
2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128
EEPROM系列
2816 2817 2864 28256 28040 29101 28010 24C01 24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 2
EPROM系列
2716（仅读）2732（仅读） 2764 27128 27256 27512 27010
其他系列
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393
22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832等等一系列
1．工作原理：
ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能
测试仪器。它以MCS51单片机为，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件
的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能
是重要，根本，能说明问题的参数。
2．系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：全塑结构机箱。
技术规格：
（1） 电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2） 整机功耗：15VA。
（3） 测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4） 编程电压：12.5V，21V。
（5） 大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6） 型号输入位数：3——6位。
（7） 适用温度：0——40℃。
（8） 测试规范：输入短路测试；输出短路测试；100%功能测试。
（9） 输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10） 输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11） 输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12） 输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。
ICT33C+具有以下主要用途：
（1） 维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2） 破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3） 烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4） 开发各类智能电子产品，调试程序。
（5） 检验新购器件的质量。
备注信息：
CMOS40系列
4000 4001 4002 4006 4007 4008 4009 4010 4011 4012 4013 4014 4015 4016 4017 4018 4019 4020 4021 4022 40234024 4025 4026 4027 4028 4029 4030等等一系列
CMOSMC140系列
MC140系列请输入与40系列相对应的型号，如MC14013为4013，MC140195为40195，其余以此
类推。
CMOS45系列
4501 4502 4503 4504 4506 4508 4510 4511 4512 4513 4514 4515 4516 4517 4518 4519 4520 4521 4522 4526 4527
CMOSMC145系列
MC145系列请输入与45系列相对应的型号，如MC14513为4513，MC145195为45195，其余
以此类推。
光耦合器系列（括号内的数值是实际输入的号）
507 5072 5073 617 627 637 521-1 521-2 521-3 521-4 621 622 624 036
865 230 855 860 865 230 231 255 119 571 011 6N135(6135) 6N136(6136)
TTL74/54系列
74/5400 74/5401 74/5402 75/5403 74/5404 74/5405 74/5406 74/5407 74/5408 74/5409 75/5410 74/5411 等 等
数码管系列
0.5吋共阳[001]、共阴[002]；0.3吋共阳[003]、共阴[004]；0.7吋共阳[005]、共阴[006]。
常用RAM系列
2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128
EEPROM系列
2816 2817 2864 28256 28040 29101 28010 24C01 24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 2
EPROM系列
2716（仅读）2732（仅读） 2764 27128 27256 27512 27010
其他系列
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393
22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832等等一系列