- 非IC关键词
上海艾斯达电子
- 卖家积分：
营业执照：已审核经营模式：经销商所在地区：上海 上海市企业网站：
http://WWW.ASDDZ.COM
收藏本公司 人气：3174450
企业档案
- 相关证件：
- 会员类型：
- 会员年限：18年
- 钱先生，张小姐
- 电话：021-51035787
- 手机：13764678882
- 韩小姐
- 阿库IM：
- 地址：上海北京东路668号赛格电子市场G537室
- 传真：021-51571116
- E-mail：isd99@163.com
产品分类
集成电路(IC)(6)
电源IC(1)
半导体存储器(38)
二极管(14)
场效应管MOSFET(8)
可控硅IGBT(13)
单片机(4)
电容器(28)
电阻器(2)
电源/稳压器(53)
连接器/接插件(64)
开关(118)
传感器(1120)
保险丝(8)
普通电池/蓄电池/动力电池(48)
变压器(2)
变送器(119)
继电器(36)
变频器(78)
逆变器(3)
放大器(16)
电线电缆(22)
光电子/光纤/激光(24)
微特电机(11)
显示屏/显示器件/配件(14)
PLC/可编程控制器(74)
编码器(50)
安防监控器材(18)
IT/电子产品成套件(86)
电子测量仪器(569)
电子产品试验设备(2)
电子产品制造设备(2)
仪器/仪表(1799)
电子材料(4)
防静电产品(2)
五金/工具(200)
其他未分类(350)
产品信息
远红外线发射率测试仪应用：
1、在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量；
2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；
3、各种零件的加工／处理前后的放射率比较；
4、其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等；
5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。
JPS-5X远红外线发射率测试仪产品构成：
１．红外线照射源
藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。
２．红外线检验素子
从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。
注：比率是依据光学系的构造来决定。
３．放射率演算回路
从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。
注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正
测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输 出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：侦测头Φ51X137mm（0.5Kg） 本 体H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附属装置：放射率0.94、0.06基准片各一片。
1、在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量；
2、藉由放射温度计的测量物体来补正放射率；
3、各种零件的加工／处理前后的放射率比较；
4、其他、从零件的放射率求取物体本身的放射率等；
5、材料科学院、实验领域必须的检测分析设备。
JPS-5X远红外线发射率测试仪产品构成：
１．红外线照射源
藉由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。
２．红外线检验素子
从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。
注：比率是依据光学系的构造来决定。
３．放射率演算回路
从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。
注：试料的反射率和放射率的关系式如下：r εε＝１－r
４．放射率表示値的校正
利用附属的放射率基准片（ε＝０．０６与０．９４）做校正
测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
测量波长：2-22μｍ
测量范围：0.00-1.00
额定精度：±0.01
测量面积：Φ15mm
测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
被测物温：10-40℃（室温）
输 出：0-0.1V，0-1V（满载）
使用温度：10-45℃
使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
使用电源：AC100V ±10%，50/60Hz
外型尺寸：侦测头Φ51X137mm（0.5Kg） 本 体H170X W306ｘD230mm（5Kg）
附属装置：放射率0.94、0.06基准片各一片。